《丘脑室旁核-边缘前皮层神经环路在糖尿病痛性病变痛觉过敏的机制研究》作者：刘雅静 张弘弘 胡吉【PDF】

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丘脑室旁核-边缘前皮层神经环路在糖尿病痛性病变痛觉过敏的机制研究
刘雅静，张弘弘，胡吉
（苏州大学附属第二医院，苏州，215000）
摘要：糖尿病周围神经病变（DiabeticPeripheralNeuropathy，DPN）是糖尿病患者常见的并发症之一，严重影响患者的生活质量。近年来，关于DPN的发病机制的研究逐渐揭示了中枢神经系统在疼痛感知中的重要作用。研究旨在探讨DPN的神经机制，重点分析室旁丘脑（ParaventricularThalamus,PVT）和前额叶皮层（ParaventricularThalamus,PrL）中谷氨酸能神经元的作用。采用链脲佐菌素诱导建立DPN小鼠模型，通过体内光纤光度测定技术监测PVT和PrL谷氨酸神经元对伤害性刺激的反应，结合光遗传学和化学遗传学手段对相关神经元进行特异性调控，评估其对疼痛行为的影响。结果显示，DPN小鼠在机械性刺激下表现出明显的痛觉敏感，PVT和PrL谷氨酸能神经元活动显著增强，干预PVT和PrL谷氨酸能神经元可显著改善DPN小鼠的疼痛行为，进一步研究明确了PVT-PrL神经环路在DPN相关疼痛调节中的关键作用。研究为理解DPN相关神经环路提供了新的见解，并为临床干预提供了潜在的治疗靶点，提示靶向PVT和PrL可能为管理慢性疼痛提供新的治疗策略。
关键词：神经科学；糖尿病痛性病变；丘脑室旁核；前额叶皮层；神经环路
中图分类号：R338.2